-
01
ICのワイヤーボンディング部を観察
-
02
焦点径0.4ミクロンで高解像X線画像
ワイヤーボンディングの1stボンディング部の観察
-
03
焦点径:0.4ミクロンで高解像X線画像
ワイヤーの2ndボンディングのつぶれ具合も観察可能
PRODUCTS本事例対応製品
FX-300tRX2 with CT
X線ステレオ方式®︎3次元X線検査装置
FX-300tRL2
X線検査装置
IX-1610
X線検査装置
FX-300tR2/FX-300tRL2リールtoリール観察機能
X線検査装置
FX-400tRX
3D-X線ステレオ方式® X線検査装置
FX-300tRX2 with CT
X線ステレオ方式®︎3次元X線検査装置
FX-300tRL2
X線検査装置
IX-1610
X線検査装置
FX-300tR2/FX-300tRL2リールtoリール観察機能
X線検査装置
FX-400tRX
3D-X線ステレオ方式® X線検査装置
FX-300tRX2 with CT
X線ステレオ方式®︎3次元X線検査装置
FX-300tRL2
X線検査装置
IX-1610
X線検査装置
FX-300tR2/FX-300tRL2リールtoリール観察機能
X線検査装置
CASEその他の事例
コネクタ検査
チップカウンター検査
ビルドアップ基板の内層観察
リール巻き取り検査
BGAのクラック観察
BGAのはんだ未接続部の観察
ICのワイヤーボンディングの自動検査
LGAの接合不良
ウエーハバンプの自動観察
プリント配線板の不良
実装基板のスルーホールX線観察
スルーホールのX線観察
パワーデバイス検査
X線画像の解像度の確認
IC検査
生基板検査
コンデンサ部品検査
BGA検査・実装基板検査
LED検査
電池検査・リチウム電池検査
コネクタ検査
チップカウンター検査
ビルドアップ基板の内層観察
リール巻き取り検査
BGAのクラック観察
BGAのはんだ未接続部の観察
ICのワイヤーボンディングの自動検査
LGAの接合不良
ウエーハバンプの自動観察
プリント配線板の不良
実装基板のスルーホールX線観察
スルーホールのX線観察
パワーデバイス検査
X線画像の解像度の確認
IC検査
生基板検査
コンデンサ部品検査
BGA検査・実装基板検査
LED検査
電池検査・リチウム電池検査
コネクタ検査
チップカウンター検査
ビルドアップ基板の内層観察
リール巻き取り検査