オフラインX線自動検査装置 FX-300tRX

■幾何学倍率:1000倍
■X線出力:90kV
■X線焦点径:5μ、15μ(切替)

コンパクトでありながら、幾何学倍率1000倍を達成したコストパフォーマンスが高いX線観察装置

特 徴

①コンパクトな小型X線装置でありながら、幾何学倍率1000倍を達成

②アイビット独自の『X線ステレオ方式』で裏面情報キャンセル

③フラットパネルが60°傾斜して観察可能、斜め観察でも倍率が下がらない

④斜めからの観察には観察位置を自動追従(カメラ傾斜してもポイントがずれない)

⑤各種測定機能付き

⑥オプションで検査機能追加可能

⑦ターゲット~試料0.5mm、ターゲット~X線カメラ500mm:500/0.5=1000、幾何学倍率1000倍を達成

仕様一覧

型式 FX-300tRX
X線管種類 マイクロフォーカス、密閉型、透過式ターゲット
X線管電圧 20~90kV
X線管焦点径 5μm, 15μm 切り替え
X線管受像部 110万画素フラットパネル
ワーク寸法 330×250mm
X線カメラ軸傾斜角度(θ) 0~60°
マニープレータ回転角度(θ) 360°CW、CCW
観察ポイント自動追従機能 カメラ傾斜しても観察ポイントを自動追従可能
モニタ 20インチLCD
供給電源 単相 AC100V 1.5KVA
X線漏洩線量 1μSv/h 以下
装置寸法 1300(W)×1150(D)×1450(H)mm
装置重量 1100Kg
オプション マニプレータ、回転テーブル

「X線ステレオ方式」による実装基板の裏面キャンセル機能

FX-300tR撮影画像01

『X線ステレオ方式』により、BGA面とチップ面を切り分けて自動検査

BGA裏面のチップ部品等は、従来の透過方式ではノイズ成分となり正しい検査が困難でした。このたびI-BITが開発したFX-300tRXは、独自の「X線ステレオ方式」を用いる事で、BGA、LGA、QFN等、はんだ接合部を直視出来ない部品や両面実装基板の検査を可能になりました。従来のX線CT方式と異なり、断層画像を必要としないため高速検査が可能です。

「X線ステレオ方式」は、株式会社アイビットの登録商標です。

幾何学倍率1000倍を達成

●従来型(FX-300tR)の高倍率がさらに向上しました。
●従来機X線観察/不良解析モードはそのままに自動検査が付加されました。

FX-300tRの機能はそのままに機能向上

FX-300tR撮影画像01
FX-300tR撮影画像02
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