なまりフリーはんだ付け部のX線観察

01

なまりフリーはんだの検証

共晶はんだと鉛フリーはんだにおいてX線の透過量がどの程度異なるか比較する
なまりフリーはんだの検証
02

チップ部分フィレット形状とX線画像

角チップのはんだ付け部分を観察
チップ部分フィレット形状とX線画像

フィレットの大きさの違いがX線画像に現れた

03

ICフィレット形状とX線画像

ICのはんだ付け部分を観察
ICフィレット形状とX線画像

フィレットの大きさの違いがX線画像に現れた

04

JリードICフィレット形状とX線画像

JリードICのはんだ付け部分を観察
JリードイICフィレット形状とX線画像

X線画像の違いも少ない

05

3端子部品のフィレット形状とX線画像

3端子部品のはんだ付け部分を観察
3端子部品のフィレット形状とX線画像

フィレットの大きさの違いがX線画像に現れた

06

鉛フリーはんだの検証結果

エックス線の透過率の違いによる差より、はんだフィレットの形状の違いによるものが大きい
鉛フリーはんだの検証結果

各々同じ厚さの試料での透過率の差は1割弱程度であり、はんだ付け検査には問題がない。

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