ICのワイヤーボンディングの観察/IX-1600-04

01

高解像度、高倍率X線検査装置 MODEL:IX-1600-04

IX-1600-04
02

ICのワイヤーボンディング部を観察

ICのワイヤーボンディング部を観察
03

焦点径0.4ミクロンで高解像X線画像

焦点径0.4ミクロンで高解像X線画像

ワイヤーボンディングの1stボンディング部の観察

04

焦点径:0.4ミクロンで高解像X線画像

焦点径0.4ミクロンで高解像X線画像02

ワイヤーの2ndボンディングのつぶれ具合も観察可能

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