BGAのクラック観察/FX-300tR

01

コンパクトな装置でありながら幾何学倍率900倍を達成したX線装置/FX-300tR

管電圧90kV・焦点径5μm・幾何学倍率900倍
FX-300tR

コンパクトでありながら、幾何学倍率900倍を達成したコストパフォーマンス高いX線装置

02

斜めからのはんだ検査

斜めからのはんだ検査

X線カメラが60度傾斜することで、
はんだ付け部を非破壊で検査することができます。

03

BGAのクラックについて

BGAのクラックについて

携帯電話のBGAにクラック発生(赤矢印部)

04

幾何学倍率800倍で観察したBGAクラック

BGAのクラック観察04

携帯電話のBGAにクラック発生(赤矢印部)

05

BGAのクラック観察2

BGAのクラック観察2

○印部がクラック発生部

本資料の著作権はI-BITに帰属します。
全部および一部の複写、複製による配布、回覧はご遠慮ください。
製品、内容についてのご質問がありましたら下記まで連絡ください。

株式会社アイビット
〒213-0012
神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1かながわサイエンスパーク(KSP)東棟6F
URL: www.i-bit.co.jp E-mail : info@i-bit.co.jp
TEL 044-829-0067 FAX 044-829-1055
地図アイコン
株式会社 アイビット I-Bit Co., Ltd.
〒213-0012 神奈川県川崎市高津区坂戸3丁目2番1号 KSP東棟6F
TEL:044-829-0067  FAX:044-829-1055